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影響測量儀新發(fā)展趨勢
更新時間:2018-12-11 點擊次數:1279
影響測量儀的發(fā)展趨勢
全自動影響測量儀是在數字化影像測量儀基礎上發(fā)展起來的人工智能型現代光學費接觸測量儀器,其承續(xù)了數字化儀器優(yōu)異的運動精度與運動操控性能,融合機器視覺軟件的設計靈性,屬于當今前沿的光學尺寸檢測設備。我司生產的全自動影響測量儀能夠便捷而快速的進行坐標測量與SPC結果分類,滿足現代制造業(yè)對尺寸檢測日益突出的要求:更高速,更便捷,更的測量需要,解決制造業(yè)發(fā)展中的又一個瓶頸技術。
全自動影響測量基于機器視覺的自動邊緣提取,自動取匹,自動對焦,測量合成,影響合成等人工智能技術,具有:點哪走哪自動測量,自動學習批量測量,影響地圖目標指引優(yōu)異功能。同時,基于機器視覺與微米控制下的自動對焦過程,可以滿足清晰造影下輔助測高需要(亦可加入觸電側頭完成坐標測高),支持空間坐標旋轉的優(yōu)異軟件性能,可在工件隨意放置的情況下進行批量測量,亦可使用夾具進行大批量掃描測量與SPC結果分類。
全自動影響測量儀是影像測量技術的階段,具有高度智能化與自動化特點。其優(yōu)異的軟硬件性能讓坐標尺寸變得便捷而愜意,擁有基于機器視覺與過程控制的自動學習功能,依托數字化儀器高速而的微米級走位,可將測量過程的路徑,對焦,選點功能切換,人工修正,燈光匹配等操作過程自學并記憶。
全自動影響測量儀可以輕松學會操作員的所有實操過程,結合其自動對焦和區(qū)域搜尋功能,目標鎖定,邊緣提取,理匹選點的模糊運算實現人工智能,可自動修正由工件差異和走位差別導致的便宜實現選點,具有高精度的重復性,從而使操作人員從疲勞目視對位,頻繁選點,重復走位,功能切換等單調操作和日益繁重的待測任務中解脫出來,成倍的提高工件批測效率,滿足工業(yè)抽檢與大批量檢測需要。